Лекции по электронной микроскопии

С 22 по 26 сентября Александр Бернер, специалист Центра электронной микроскопии университета Технион (Хайфа, Израиль), прочтет серию лекций по физическим основам и особенностям практического применения методов электронной микроскопии.

22 сентября «Принцип растровой электронной микроскопии (РЭМ). Основные параметры (пространственное разрешение, увеличение, глубина фокуса) и их взаимосвязь».

23 сентября «Рассеяние электронов в твердом теле. Сечения рассеяния. Симуляции процессов рассеяния».

24 сентября «Интерпретация контрастов в изображениях во вторичных и отраженных электронах».

25 сентября «Растровая электронная микроскопия высокого разрешения. Непроводящие объекты. Работа в низком вакууме. Примеры применения».

26 сентября «Принципы рентгеновской спектроскопии с энергетической и волновой дисперсией. Анализ субмикронных пленок на подложках. Предел обнаружения элементов. Дифракция отраженных электронов».

Все лекции будут проходить с 14:15 до 15:50 в 209 аудитории главного корпуса. Приглашаются студенты старших курсов, аспиранты и все заинтересованные сотрудники ТПУ. Язык лекций — русский, текст слайдов — на английском языке.